Voir l'intérieur des matériaux jusqu'à une résolution de 0,5 micron
© PIXE / Gary Perrenoud / 2019 EPFL
En ajoutant un second générateur de rayons X à son système de tomographie «Ultratom» déjà unique en Suisse, l’EPFL produit des images de l’intérieur de matériaux à très haute résolution. Le potentiel de cet équipement sera présenté lors de portes ouvertes destinées en particulier aux doctorants de l’école, le 17 avril 2019.
Scanner et reconstruire en 3D l’intérieur d’un matériau sans le détruire, telle est la valeur du CT-scanner que l’EPFL a acquis en 2017. De multiples chercheurs de l’école y ont recours, de l’expert en béton aux développeurs de matériaux composites, en passant par des invités externes, tels que les historiens de l’art et les archéologues.
L’appareil, réuni sous l’appellation Plateforme interdisciplinaire de micro-tomographie à rayons X (PIXE), est désormais équipé d’un second générateur de rayons X, augmentant encore la résolution des images obtenues. Les doctorants de l’école sont invités à découvrir le potentiel offert par ce nouvel équipement le 17 avril prochain lors de portes ouvertes.
Intéressante pour les petits objets
L’ajout d’un générateur de 160 kV, avec une cible en tungstène sur une fenêtre en diamant à faible diffraction, permet une résolution d'image jusqu'à une taille de voxel de 0,5 micron. Cette résolution est particulièrement intéressante pour déterminer la structure interne de très petits objets.
Le nouvel équipement révèlera également en 3D la microstructure souvent inconnue de nombreux matériaux naturels ou artificiels et permettra d'observer la réponse en volume de ces matériaux à différents types de contraintes: mécaniques, thermiques ou hydrauliques.
Pour l'EPFL et au-delà
Bien que reliée à la Faculté l'ENAC, la plateforme PIXE est au service de l'ensemble de la communauté scientifique de l'EPFL et alentour. Le nouvel équipement a été obtenu grâce à des fonds du bureau de recherche de l’EPFL, des fonds de contrepartie de la Faculté ENAC, du Laboratoire des systèmes écologiques (ECOS) et du Laboratoire de mécanique des sols (LMS) de l’ENAC, du Laboratoire des structures flexibles (FLEXLAB) de la Faculté STI et grâce aux fonds de la plateforme PIXE elle-même.
- Portes ouvertes 17 avril 2019, Plateforme interdisciplinaire de micro-tomographie à rayons X (PIXE), EPFL
Six visites à 9h, 10h, 11h, 13h, 14h et 15h, Local GC G0 536/537
Inscriptions: pour les doctorants EPFL, s’inscrire via le lien envoyé le 02.04.2019; pour les autres, contacter [email protected].